サービス内容

25～170GHz帯の各周波数帯に対応した導電率測定用ファブリペロー共振器を、短期・長期のいずれでもレンタルいただけます。
ファブリペロー共振器とKeysight Technologies社製のベクトル・ネットワーク・アナライザ (VNA) を組み合わせることで、銅箔、金属薄膜、板状金属材料などの高周波・ミリ波帯における導電率を測定できます。
VNAもあわせてレンタルすることで、導電率測定に必要な測定システム一式を構築できます。
また、ミリ波エクステンダー、接続部品、自動測定ソフトウエア、制御用PCなど、測定に必要な周辺機器もレンタル可能です。
お客さまの保有設備、測定周波数、測定対象に応じて、最適な機器構成をご提案します。

製品構成例

こんな方におススメ

• AIサーバーや高速通信機器向けの低損失基板材料・導体材料を開発している方
  
• 5G・6Gなど、次世代移動体通信向けの銅箔・導体材料を開発している方
• 25～170GHzにおける銅箔や金属材料の導電率を評価したい方
• ミリ波・サブテラヘルツ帯の伝送損失シミュレーションと実測結果の差を検証したい方
• 半導体パッケージ、高周波モジュール、アンテナ向けの金属材料を評価したい方
• 車載レーダー、衛星通信、センシング機器向け材料の高周波特性を確認したい方
• 銅箔の表面処理、表面粗さ、めっき・蒸着条件による導電率の違いを比較したい方
• 測定装置の購入前や一時的な開発案件のため、短期間だけ導電率測定システムを利用したい方

製品紹介

25～170GHzにおける銅箔や金属薄膜、板状金属材料の表面導電率を測定できる、導電率測定用ファブリペロー共振器です。
高周波・ミリ波帯では、銅箔の表面粗さや表面処理の影響により、直流測定から得られる導電率とは異なる特性を示します。
本製品では、材料が実際に使用される高周波・ミリ波帯における導電率を測定できるため、伝送損失の解析や材料間の比較評価に活用できます。
銅箔単体だけでなく、誘電体が付いた状態の銅箔についても測定できるため、実際のプリント基板材料に近い状態で導体特性を評価できます。
伝送線路を作製することなく、銅箔や導体材料そのものを評価できる点も大きな特長です。

サービスの強み

1. 測定者が変わっても、ばらつきの小さい測定が可能

導電率測定用ファブリペロー共振器は、試料を所定の位置へ設置するだけで測定でき、複雑な位置合わせや試料加工を必要としません。
試料の設置方法が分かりやすく、測定者による操作の違いが結果に反映されにくいため、高い測定再現性を得られます。
同じ試料を繰り返し設置した場合や、測定担当者を変更した場合でも、ばらつきを抑えた安定した測定が可能です。
材料間の比較、表面処理条件の検討、製造ロットの管理など、継続的なデータ比較にも適しています。

• 測定再現性の評価結果はこちら

2. 25～170GHzの導電率を短時間で測定

測定周波数に対応したファブリペロー共振器を使用することで、25～170GHzの高周波・ミリ波帯における導電率を測定できます。（23～110GHzモデル・110～170GHzモデル）
専用の自動測定ソフトウエアが、VNAの制御から共振特性の取得、導電率の算出、結果表示までを自動で行います。
複数の周波数における導電率を短時間で取得できるため、材料の周波数特性を効率よく評価できます。

3. 伝送線路を作製せず、導体材料を単体で評価

導電率を測定するために、マイクロストリップ線路などの伝送線路を作製する必要はありません。
銅箔、金属薄膜、板状金属材料などを使用し、材料単体の高周波導電率を評価できます。
回路形成やエッチングなどの工程を省略できるため、試料作製にかかる時間と費用を抑えられます。
また、回路形状や基板設計の影響を受けず、導体材料そのものの特性を比較できます。

4. 誘電体が付いた状態の銅箔も測定可能

銅箔単体だけでなく、誘電体が付いた状態の銅箔についても導電率を評価できます。
実際のプリント基板材料に近い状態で測定できるため、銅箔と誘電体の組み合わせを考慮した材料選定や、伝送損失解析に使用する導電率データの取得に適しています。

5. ミリ波帯における実効的な導電率を評価

高周波・ミリ波帯では、材料固有の導電率だけでなく、表面粗さ、表面処理、めっき、蒸着条件などが電流分布や伝送損失に影響します。
本製品では、25～170GHzにおける実効的な導電率を測定できるため、ロープロファイル銅箔の比較、表面処理条件の最適化、めっき・蒸着膜の評価、製造ロット間の比較などに活用できます。
取得した導電率を電磁界シミュレーションの材料パラメータとして使用することで、実際に基板を作製して測定したSパラメータやアイパターンと、よく一致する解析結果が得られています。
実測値に基づいて導体損失を設定できるため、一般的な導電率の設定値を使用する場合と比べて、実際の基板特性をより正確に再現できます。
5G・6G、AIサーバー、高速通信機器、半導体パッケージ、車載レーダーなどにおける伝送損失の予測や、基板作製前の材料選定、設計条件の最適化、シミュレーション精度の向上に活用できます。

料金プラン

別途お問い合わせください。

導入事例

導電率測定用ファブリペロー共振器は、銅箔メーカー、プリント基板材料メーカー、半導体関連企業、電子機器メーカーなどにおける研究開発や材料評価に活用されています。

主な導入・活用事例

• 5G・6Gなどの高周波・ミリ波通信向け銅箔の研究開発
• AIサーバーや高速通信機器向け低損失基板用銅箔の開発・評価
• 半導体パッケージや高周波モジュールに使用される導体材料の評価
• 車載レーダー、衛星通信、センシング機器向け金属材料の評価
• 銅箔の表面処理や表面粗さによる導電率の違いの比較
• めっき・蒸着条件の最適化による導電率向上の検討
• 誘電体付き銅箔や積層材料における導体特性の評価
• 伝送損失やアイパターンのシミュレーションに使用する導電率データの取得
• 銅箔の周波数特性、材料間、製造条件、製造ロットによる特性差の評価

本製品は、銅箔や金属材料の研究開発から、基板・伝送路の設計、シミュレーション精度の向上、製造条件の最適化まで、さまざまな用途で活用されています。
25～170GHzの広い周波数範囲における導電率を評価できるため、ミリ波帯で使用される導体材料の周波数特性を把握し、材料選定や伝送損失低減の検討に活用できます。

メーカーホームページ

注意事項、前提条件

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