サービス内容

以下の4つの周波数帯に対応した導波管サンプルホルダを、短期・長期のいずれでもレンタルいただけます。

• Xバンド：8.2～12.4GHz
• Pバンド：12.4～18GHz
• Kバンド：18～26.5GHz
• Rバンド：26.5～40GHz

導波管サンプルホルダ と Keysight Technologies社製のベクトル・ネットワーク・アナライザ (VNA) を組み合わせることで、誘電材料や磁性材料の複素比誘電率および複素比透磁率を測定できます。
VNAもあわせてレンタルすることで、材料測定に必要なシステム一式を構築できます。

測定には、EMラボ製の自動測定ソフトウエアを使用します。
VNAによるSパラメータ測定から、誘電率・透磁率の算出、測定結果の表示までを自動で行うため、専門的な解析作業を必要とせず、効率よく材料特性を評価できます。

また、各周波数帯に対応した接続部品、制御用PCなど、測定に必要な周辺機器もレンタル可能です。
お客さまの保有設備、測定周波数、測定対象に応じて、最適な機器構成をご提案します。

製品構成例

こんな方におススメ

• Xバンド帯の防衛・航空宇宙用レーダー向け材料を開発・評価している方
• レーダー用電波吸収体や電波吸収材料の誘電率・透磁率を測定したい方
• フェライト、磁性体、磁性複合材料などの周波数特性を評価したい方
• レーダー、アンテナ、通信機器に使用する樹脂や複合材料を評価したい方
• Xバンド、Pバンド、Kバンド、Rバンドにおける材料定数を連続的に把握したい方
• シミュレーションに入力する複素比誘電率・複素比透磁率の実測データを取得したい方
• 測定システムの導入前に、実際の試料を用いて性能や操作性を確認したい方
• 一時的な研究開発や評価試験のため、必要な周波数帯の装置を短期間だけ使用したい方

製品紹介

Xバンド (8.2～12.4GHz)、Pバンド (12.4～18GHz)、Kバンド (18～26.5GHz)、Rバンド (26.5～40GHz) に対応した、誘電率・透磁率測定用の導波管サンプルホルダです。

導波管法では、キャリブレーション中に測定ケーブルを動かすと、ケーブルの曲がりや位置の変化によって位相や振幅が変動し、測定誤差やばらつきの原因となります。
本製品は、測定ケーブルをほとんど動かすことなくキャリブレーションから試料測定へ移行できる独自構造を採用しています。

サービスの強み

1. 高い再現性を実現

高周波測定では、キャリブレーション後に測定ケーブルの曲がり方や位置が変わると、位相や振幅が変動し、測定誤差やばらつきの原因となります。
本製品は、測定ケーブルをほとんど動かすことなく、キャリブレーションから試料測定へ移行できる構造を採用しています。
キャリブレーション後の測定系の変化を最小限に抑えることで、高い精度と再現性で誘電率・透磁率を測定できます。
同じ試料を繰り返し測定した場合や、測定担当者を変更した場合でも安定した結果を取得できるため、材料間、配合条件、製造条件、製造ロットによるわずかな特性差の比較にも適しています。

• 測定再現性の評価結果はこちら

2. キャリブレーションは約40秒

キャリブレーションは約40秒で完了します。
一般的な導波管測定で負担となる校正作業を短時間で行えるため、測定準備に時間をかけることなく、すぐに試料測定を開始できます。
キャリブレーションの操作も簡単で、測定者の経験による差が生じにくい設計です。
複数の試料や材料配合を効率よく比較でき、研究開発から品質評価まで幅広く活用できます。

3. 誘電率と透磁率を同時に評価

VNAで測定したSパラメータから、材料の複素比誘電率と複素比透磁率を算出できます。
樹脂やセラミックスなどの誘電材料だけでなく、フェライト、磁性シート、磁性複合材料、電波吸収材料などの評価にも対応します。
材料の電気的特性と磁気的特性を周波数ごとに把握できるため、電波吸収体やレーダー関連材料の設計に適しています。

4. 8.2～40GHzの4つの周波数帯に対応

以下の4つの周波数帯に対応した導波管サンプルホルダを用意しています。

• Xバンド : 8.2～12.4GHz
• Pバンド : 12.4～18GHz
• Kバンド : 18～26.5GHz
• Rバンド : 26.5～40GHz

Xバンドを使用するレーダー関連材料をはじめ、通信機器、アンテナ、センシング機器など、実際の使用周波数に合わせて材料定数を取得できます。

5. WG-MAによる測定・解析の自動化

測定には、EMラボ製の自動測定ソフトウエア「WG-MA」を使用します。
WG-MAがVNAを制御し、Sパラメータの取得から複素比誘電率・複素比透磁率の算出、測定結果の表示までを自動で行います。
複雑な計算や解析作業を必要とせず、測定者が変わっても同じ手順で測定できます。
取得した材料定数は、電磁界解析、電波吸収体設計、レーダー・アンテナ解析などのシミュレーションにも活用できます。

料金プラン

別途お問い合わせください。

導入事例

導波管サンプルホルダは、防衛・航空宇宙、レーダー、通信、自動車、電子材料などの分野における材料開発や電磁特性評価に活用されています。

主な導入・活用事例

• Xバンドを使用する防衛・航空宇宙用レーダー向け電波吸収材料の誘電率・透磁率評価
• レーダー用フェライト、磁性シート、磁性複合材料の研究開発
• レドームやアンテナカバーに使用する樹脂・複合材料の材料定数測定
• 5G・6Gなどの高周波通信機器に使用する吸収体の開発
• 電磁界シミュレーションに入力する複素比誘電率・複素比透磁率の取得
• 材料の周波数特性、製造ロット、供給元による特性差の確認
• 開発材料と既存材料の比較評価

特にXバンドは、各種レーダーシステムで広く使用される周波数帯です。
本製品を使用することで、レーダー用電波吸収体や磁性材料の複素比誘電率・複素比透磁率を実測し、材料設計や吸収特性のシミュレーションに活用できます。

測定ケーブルをほとんど動かさずにキャリブレーションできるため、材料間や製造条件間のわずかな違いも、ばらつきを抑えて比較できます。
研究開発だけでなく、材料選定、シミュレーション精度の向上、製造条件の最適化、品質管理まで幅広く活用されています。

メーカーホームページ

注意事項、前提条件

• お客さまの個人情報は、サービスに関する対応のため横河レンタ・リース株式会社および商品・サービス提供元の企業各社において利用させていただきます。
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